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本篇博文主要是讲述一下计算机组成原理实验中数据通路组成的实验，因为很多同学在刚学习计算机组成原理实验的时候对于调试的一些步骤还是有些懵懵懂懂，每个步骤之间的连接做的不是很连贯，故有了写此篇博文的初衷，笔者会在近期分享计算机组成原理实验的五个实验，希望对有学习此课程的同学能够有一些帮助！
实验目的
（1）将双端口通用寄存器堆和双端口存储器模块联机；
（2）进一步熟悉计算机的数据通路；
（3）掌握数字逻辑电路中故障的一般规律，以及排除故障的一般原则和方法；
（4）锻炼分析问题与解决问题的能力，在出现故障的情况下，独立分析故障现象，并排除故障。
实验任务
（1）将实验电路与控制台的有关信号进行线路连接，方法同前面的实验。
（2）用８位数据开关向RF中的四个通用寄存器分别置入以下数据：R0＝0FH，R1＝F0H，R2 ＝55H，R3＝AAH。
给R0置入0FH的步骤是：先用８位数码开关SW0—SW7将0FH置入ER，并且选择WR1＝0、WR0 = 0、WRD =
1，再将ER的数据置入RF。给其他通用寄存器置入数据的步骤与此类似。
（3）分别将R0至R3中的数据同时读入到DR2寄存器中和DBUS上，观察其数据是否是存入R0至R3中的数据，并记录数据。其中DBUS上的数据可直接用指示灯显示，DR2中的数据可通过运算器ALU，用直通方式将其送往DBUS。
（4）用８位数码开关SW0—SW7向AR1送入一个地址0FH，然后将R0中的0FH写入双端口RAM。
用同样的方法，依次将R1至R3中的数据写入RAM中的0F0H、55H、0AAH单元。
实验实操步骤
第一步：打开组原实验的仿真面板并进行线路连接
第二步：用８位数据开关向RF中的四个通用寄存器分别置入以下数据：R0＝0FH，R1＝F0H，R2 ＝55H，R3＝AAH
第三步：将R0至R3中的数据同时读入到DR2寄存器中和DBUS上
第四步：用８位数码开关SW0—SW7向AR1送入一个地址0FH，然后将R0中的0FH写入双端口RAM
第五步，把RAM中的数据相反的导入RF中，并验证是否正确
因笔者的疏忽，部分步骤的图里可能没有写执行QD操作，事实上，每一步都要执行QD进行操作的，第五步里也缺少一个步骤，即图中蓝色字体所描绘的步骤，把RAM中的数据写入ER这个步骤，如果有不理解的地方，可以在评论区进行评论，谢谢大家。感谢大家的浏览！
